DAVID
LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais / STELLANTIS

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Conférences

Scanners à main: quels enjeux métrologiques ?

lundi 30 mars 2026 de 11:30 à 12:00 - 30 min

Zone de pitch métrologie/photonique

Table ronde

Michael CANDELA

Responsable du Centre MECA3D

INSA LYON/INSAVALOR

DAVID LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais

STELLANTIS

Olivier Longuemare

Sales Director – France / Benelux / Maghreb

FARO-CREAFORM (Ametek SAS)

Stéphane ROUSSEL

Ingénieur

CETIM

Jerome LOPEZ

Director

CFM - COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE

Plus de speakers

Wafaâ AMAL

Directrice Générale / PRISME.AI

SÉBASTIEN DENAËS

Chef du service de Datascience Digital Road Inspection & Method / COLAS

Loic PLANQUE

Responsable Commercial Cyber-sécurité / BUREAU VERITAS

Bonjour et enchanté ! Je suis responsable commercial au sein de BV Cybersecurity, heureux d'être présent sur le salon GI. Nous aidons les acteurs de toutes industries autour de leurs projets de: -Conformité (Machine, CRA, NIS2, IEC62443, ISO27K...) -Contrôle des risques IT/OT au niveau sites, systèmes et produits, -Résilience des équipes opérationnelles et de direction. Au plaisir de vous retrouver à Villepinte. Loïc

ALICE EKMAN

Directrice de la recherche / l'Institut des études de sécurité de l'Union européenne (EUISS)