DAVID
LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais / STELLANTIS

Access to the mygi Application

Conferences

Handheld scanners: what are the metrological challenges?

Monday 30 March 2026 de 11:30 à 12:00 - 30m

Zone de pitch métrologie/photonique

Table ronde

Michael CANDELA

Responsable du Centre MECA3D

INSA LYON/INSAVALOR

DAVID LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais

STELLANTIS

Olivier Longuemare

Sales Director – France / Benelux / Maghreb

FARO-CREAFORM (Ametek SAS)

Stéphane ROUSSEL

Ingénieur

CETIM

Jerome LOPEZ

Director

CFM - COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE

More speakers

ARIANE THOMAS

Directrice Monde de la Tech pour les enjeux développement durable et IA responsable / L'Oréal

Utilisateur de Cloud

Anne-sophie TAILLANDIER

Directrice de Data4NuclearX / EDF

PIERRE-YVES LE MORVAN

Account Manager Industry & Manufacturing / France NVIDIA

Julius LAWSON DAKU

CEO / OPTOPARTNER